AFM

AFM (Atomic Force Microscopy, mikroskopie atomárních sil) je mikroskopická technika, která se používá k trojrozměrnému zobrazování povrchů. Pomocí AFM je možné zkoumat povrchy pevných látek (například substráty pro SERS), objekty nanosvěta nebo biologické systémy. Za určitých podmínek je možné dokonce zmapovat povrch jediné molekuly! Povrch našeho vzorku je skenovaný speciálním hrotem, který je tak dokonalý, že jeho špičku tvoří pouze několik atomů. Kvůli meziatomové přitažlivosti mezi špičkou hrotu a vzorkem se při přiblížení k povrchu vzorku hrot ohýbá, a tento ohyb detekujeme s velikou přesností pomocí laseru.

Už jste viděli motýlí nožičku tak zblízka, jak ji ještě žádný motýl neviděl?

Více informací

Na našem oddělení se problematikou zabývají Vladimír Kopecký a Kateřina Hofbauerová